電子材料中有害重金屬Cd和Pb的分析案例

背景

近年來，對環(huán)境問題的關(guān)注日益增加，鎘和鉛被用作穩(wěn)定劑，特別是在塑料阻燃劑和電線電纜涂層材料中。歐盟內(nèi)部制定了 WHEE（廢棄電氣電子設(shè)備）和 RoHS（限制在電氣和電子設(shè)備中使用某些有害物質(zhì)）等法規(guī)，有害物質(zhì)（汞、鎘、鉛、六價鉻、PBB?PBDE) 的使用受到限制。這次，我們將介紹使用能量色散 X 射線熒光光譜儀 (OURSTEX150RoHS) 輕松進行的低濃度 Cd/Pb 分析。

測量條件

• 測量裝置：OURSTEX150RoHS

• 探測器：SDD（硅漂移探測器）

• 管電壓/電流：48kV-AUTO

測量結(jié)果

圖 1 顯示了 Cd 和 Pb 的測量曲線。樣品是在氯乙烯樹脂中添加 Cd 和 Pb 制成的糊狀物。與空白樣品相比，即使在低濃度下，33ppm Cd-Kα 和 43ppm Pb-Lα 也清楚地顯示出峰。圖 2 顯示了每個的校準(zhǔn)曲線數(shù)據(jù)。通過設(shè)置 ROI 范圍并使用具有背景減法的綜合強度獲得標(biāo)準(zhǔn)曲線。此外，表 1 顯示了每個測量時間的檢測下限。

概括

OURSTEX 150RoHS 結(jié)構(gòu)緊湊，不需要液氮或冷卻水，因此具有成本效益。另外，由于使用熒光X射線分析法，樣品處理容易，測定也容易。此外，SDD檢測器、鎢管和特殊濾光片的使用可以同時分析鎘和鉛，靈敏度高，測量時間短。該設(shè)備適用于電線包覆劑和各種塑料等電子零件中微量重元素的分析。

推薦設(shè)備

能量色散X射線熒光光譜儀“OURSTEX160RoHS"